發明專利實體審查基準(一):國際法規與案例彙編(2版)

發明專利實體審查基準(一):國際法規與案例彙編(2版)
定價:350
NT $ 100 ~ 1,425
  • 作者:張仁平
  • 出版社:經濟部智慧財產局
  • 出版日期:2010-03-01
  • 語言:繁體中文
  • ISBN10:9860213887
  • ISBN13:9789860213881
  • 裝訂:平裝 / 316頁 / 16k菊 / 14.8 x 21 cm / 普通級 / 單色印刷 / 初版
 

內容簡介

  本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例,其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容,列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範,包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約(EPC)、美國、實質專利法條約(SPLT)草案、與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)與專利合作條約(PCT)等,以供比較參考,並於各章節編列相關案例,詳加解說,有助於瞭解專利審查基準之相關規範。

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