共五篇三十章,主要內容包括:晶體學基礎、X射線衍射、透射電子顯微學、掃描電子顯微鏡和電子探針,以及其他顯微分析方法。《高等學校理工科材料類規划教材:材料微結構分析原理與方法》將晶體學基礎作為學習微結構分析方法的前提,只有從根本上了解晶體結構的本質,才能靈活使用微結構分析方法。微結構分析方法的論述沒有局限在本科生的層次,在有些章節深人到研究生層次,如X射線衍射的織構分析部分和透射電子顯微鏡中的復雜電子衍射譜等。
另外,《高等學校理工科材料類規划教材:材料微結構分析原理與方法》還盡可能全面地介紹了其他相關的材料學顯微分析方法,用於擴充學生的知識面,以適應材料分析多元化發展的要求。因此,此書同樣適用於相關學科的研究生教學。
目錄
第1篇 晶體學基礎
第1章 晶體簡介
第2章 晶體的對稱性
第3章 倒易點陣
第2篇 X射線衍射分析
第1章 X射線物理基礎
第2章 X射線衍射幾何
第3章 X射線衍射強度
第4章 粉末多晶體X射線衍射
第5章 X射線物相鑒定
第6章 點陣常數的精確測定
第7章 X射線宏觀應力分析
第8章 亞晶粒大小和顯微畸變的測定
第9章 非晶材料X射線分析及結晶度測定
第10章 織構測量
第3篇 透射電子顯微學
第1章 電子光學基礎
第2章 透射電子顯微鏡
第3章 電子與物質的相互作用
第4章 電子衍射
第5章 復雜電子衍射譜
第6章 透射電子顯微術圖像襯度
第7章 掃描透射電子顯微鏡
第4篇 掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析
第1章 掃描電子顯微鏡概述和發展歷史
第2章 電子與物質的交互作用
第3章 掃描電子顯微鏡的原理、結構和性能
第4章 表面形貌襯度原理及其應用
第5章 原子序數襯度原理及其應用
第6章 電子背散射衍射
第7章 電子探針顯微分析
第5篇 其他顯微分析方法
第1章 能譜分析類
第2章 光譜分析類
第3章 探針型顯微鏡分析類
附錄
擴展閱讀
第1章 晶體簡介
第2章 晶體的對稱性
第3章 倒易點陣
第2篇 X射線衍射分析
第1章 X射線物理基礎
第2章 X射線衍射幾何
第3章 X射線衍射強度
第4章 粉末多晶體X射線衍射
第5章 X射線物相鑒定
第6章 點陣常數的精確測定
第7章 X射線宏觀應力分析
第8章 亞晶粒大小和顯微畸變的測定
第9章 非晶材料X射線分析及結晶度測定
第10章 織構測量
第3篇 透射電子顯微學
第1章 電子光學基礎
第2章 透射電子顯微鏡
第3章 電子與物質的相互作用
第4章 電子衍射
第5章 復雜電子衍射譜
第6章 透射電子顯微術圖像襯度
第7章 掃描透射電子顯微鏡
第4篇 掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析
第1章 掃描電子顯微鏡概述和發展歷史
第2章 電子與物質的交互作用
第3章 掃描電子顯微鏡的原理、結構和性能
第4章 表面形貌襯度原理及其應用
第5章 原子序數襯度原理及其應用
第6章 電子背散射衍射
第7章 電子探針顯微分析
第5篇 其他顯微分析方法
第1章 能譜分析類
第2章 光譜分析類
第3章 探針型顯微鏡分析類
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