自動化光學檢測(AOI)

自動化光學檢測(AOI)
定價:1200
NT $ 1,140
  • 作者:章明
  • 出版社:台灣電路板協會
  • 出版日期:2013-11-29
  • 語言:繁體中文
  • ISBN10:9868876877
  • ISBN13:9789868876873
  • 裝訂:平裝 / 239頁 / 16k / 19 x 26 cm / 普通級 / 單色印刷 / 初版
 

內容簡介

  本書乃結合中原大學機械系與工研院量測技術發展中心、業界專家等進行撰寫。內容包括,簡單介紹自動化光學檢測技術的發展與未來趨勢、光學量測技術會使用到的理論基礎、各種基本光學影像元件與系統、光學量測系統的傳動元件、影像處理技術及其應用、三維量測技術及一些實際範例介紹如何應用上述技術開發特定用途的自動化光學檢測系統。具自動化光學檢測領域的廣度與深度能對自動化光學檢測技術與系統的建立有實務概念。

 

目錄

第一章緒論
1.1 自動化光學檢測的發展背景
1.2 產業製程應用自動化光學檢測的需求
1.3 自動化光學檢測系統的組成
1.4 自動化光學檢測的技術發展

第二章干涉與繞射
2.1 干涉
2.2 繞射

第三章光學元件與系統
3.1 影像擷取系統
3.2 光源
3.3 光學編碼器

第四章傳動用電機
4.1 步進馬達
4.2 伺服馬達
4.3 線性馬達

第五章數位影像處理
5.1 數位影像的模型與格式
5.2 基本灰階及二值影像處理
5.3 數位影像強化與復原
5.4 數位影像分析與辨識
5.5 數位影像轉換

第六章影像辨識方法
6.1 特徵抽取
6.2 分類方法

第七章三維量測技術
7.1 雷射光點與光束掃描量測
7.2 結構光法與投射條紋法
7.3 雙鏡頭立體視覺量測
7.4 白光顯微干涉儀
7.5 光學同調掃描技術
7.6 差分干涉對比顯微技術

第八章應用實例
8.1 AOI 技術在電路板組裝製程之應用
8.2 雙穩態膽固醇液晶顯示器之瑕疵檢測
8.3 高通量顯微影像資訊系統
8.4 以低同調光源執行透明材質全域形貌量測
8.5 差分干涉形貌量測
8.6 三維積體電路製程檢測技術
8.7 植基於 GPU 與 CPU 之自動化光學檢測

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