發明專利實體審查基準1國際法規與案例彙編 定價:350 元 NT $ 333 作者:張仁平,謝銘洋 出版社:經濟部智慧財產局 出版日期:2007-02-01 語言:繁體中文 ISBN10:9860078939 ISBN13:9789860078930 裝訂:平裝 / 320頁 / 16k菊 / 14.8 x 21 cm / 普通級 / 初版